玉米考種分析系統產品概述：

玉米考種分析系統

儀器用途：
專業玉米籽粒、果穗、截面的精確考種以及出苗數、整齊度、均勻度分析。

玉米考種分析系統功能特點：
1、 可對圖片玉米的散粒、整穗、截面進行分析，玉米考種分析及千粒重儀系統是根據圖像識別原理來實現自動分析的。
2、 本配置于玉米籽粒、果穗、截面的精確考種分析（紫黑色玉米的果穗不能測）成像特性：掃描分析的種粒直徑0.5～20mm。適用分析工作區尺寸：掃描儀A3幅面（431.8mm×301mm），可同時成像分析10個玉米果穗、35個玉米截面、1000粒左右的玉米籽粒。
3、 拍照成像分析為A4幅面。圖像觀察：具有任意放大、縮小、局部觀察功能；
4、 籽粒數粒速度、精度：自動數粒速度：1500～3000粒/分鐘，數粒誤差≤±1%，監視修正即達100%正確。自動測出籽粒數、各籽粒的粒形參數（長、寬、長寬比、面積、等效直徑、周長等），以及其平均值。
5、 自動千粒重分析的精度誤差：≤±0.5%。果穗、截面分析速度、精度：自動測出各玉米穗長、穗粗、禿尖長、左右穗緣角、穗行角、測量粒數、平均粒高、行粒數、穗行數。截面穗行數、穗粗、軸粗，以及其平均值，可測出各玉米截面上的粒長、粒寬、顏色等參數。
6、 備注：（電子天平內有驅動光盤，聯上電腦之前需安裝驅動）電子天平RS232重量數據的自動輸入接口，天平上的被測樣本重量數據可一鍵導出到電腦保存為EXCEL表。全程電腦控制，高效、準確、簡便易用，真正一鍵式操作，鼠標一點，結果即現。
7、分析數據導出：分析圖像結果可保存，自動形成總報表，統計分析結果能輸出至Excel表。
               
             玉米散粒分析                                               玉米多截面分析                                             玉米整穗分析